Backscatter-detectie is een techniek waarmee deeltjes of straling worden gemeten die teruggekaatst worden vanaf een materiaal nadat ze met het oppervlak hebben geparticipeerd. Door deze teruggekaatste signalen te analyseren, kan waardevolle informatie over de samenstelling, structuur en oppervlaktekenmerken van een monster worden verkregen. Deze methode wordt veel gebruikt in wetenschappelijke, industriële en beeldvormings‑toepassingen waar niet-destructieve materiaalanalyse en hoge-contrastbeeldvorming vereist zijn.

De SiTek Backscatter Detector is een hoogwaardig elektron- en ionendetectieapparaat ontworpen voor toepassingen die nauwkeurige detectie van teruggekaatste deeltjes vereisen. Veelgebruikt in elektronenmicroscopie, oppervlakteanalyse en wetenschappelijk onderzoek, biedt de detector betrouwbare signaalverzameling en uitstekende gevoeligheid voor materiaalkarakterisering en beeldvorming. Het robuuste ontwerp, de snelle respons en de hoge detectie-efficiëntie maken nauwkeurige analyse van monstersamenstelling en oppervlaktekenmerken mogelijk, waardoor het een waardevolle component is in geavanceerde analytische en inspectiesystemen. Gebaseerd op SiTek’s expertise in sensortechnologie levert de Backscatter Detector betrouwbare prestaties voor veeleisende industriële en onderzoeksomgevingen.

Heeft u een oplossing op maat voor uw project nodig? Wij kunnen het realiseren. Onze R&D‑ingenieurs kunnen onze technologie aanpassen aan uw specifieke eisen. Vul gewoon het contactformulier in en een lid van ons team neemt spoedig contact met u op.