La détection en rétro-diffusion est une technique utilisée pour mesurer des particules ou des rayonnements qui sont réfléchis par un matériau après interaction avec sa surface. En analysant ces signaux rétro-diffusés, il est possible d’obtenir des informations précieuses sur la composition, la structure et les caractéristiques de surface d’un échantillon. Cette méthode est largement utilisée dans des applications scientifiques, industrielles et d’imagerie nécessitant une analyse des matériaux non destructive et une imagerie à fort contraste.

Le SiTek Backscatter Detector est un dispositif de détection d’électrons et d’ions haute performance conçu pour des applications nécessitant une détection précise des particules rétro-diffusées. Couramment utilisé en microscopie électronique, analyse de surface et recherche scientifique, le détecteur offre une acquisition de signal fiable et une excellente sensibilité pour la caractérisation des matériaux et l’imagerie. Son design robuste, sa réponse rapide et sa haute efficacité de détection permettent une analyse précise de la composition de l’échantillon et des caractéristiques de surface, en faisant un composant précieux dans les systèmes avancés d’analyse et d’inspection. Fondé sur l’expertise de SiTek en technologie des capteurs, le Backscatter Detector délivre des performances fiables pour des environnements industriels et de recherche exigeants.

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